便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的 及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。 为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。 测量范围： 可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可测方块电阻：0.1～1999Ω/口 当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。 （2）恒流源： 输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档 10mA量程：0.1～1mA 连续可调 10mA量程：1mA ～10mA连续可调 恒流精度：各档均优于±0.1% 适合测量各种厚度的硅片 （3） 直流数字电压表 测量范围：0～199.9mv 灵敏度：100μv 准确度：0.2%（±2个字） （4） 供电电源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用环境： 相对湿度≤80% （6） 重量、体积 重量：2.2 公斤 体积：宽210×高100×深240（mm） (7)KD探针头 压痕直径：30/50μm 间距：1.00mm 探针合力：8±1N 针材：TC 客户提问： 可以测量薄膜厚度在0.2-10微米间