上海青福机电设备有限公司
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颗粒粒径分析仪测量原理
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产品介绍
颗粒粒径分析仪是一种用于测量和分析颗粒物体的粒径(尺寸)分布的仪器。它可以应用于不同领域,如材料科学、环境监测、食品工业、制药等。 颗粒粒径分析仪可以使用多种测量原理进行粒径分析,其中常见的包括: 1.激光散射原理:通过激光束照射到样品上,测量散射光的角度和强度变化,从而计算出颗粒的粒径分布。 2.动态光散射原理:利用颗粒在液体或气体中的扩散运动,通过测量光散射的强度和时间变化,计算出粒径分布。 3.图像分析原理:基于图像处理技术,通过拍摄颗粒的图像并分析其形状和大小,得出粒径分布。 颗粒粒径分析仪通常具有以下特点: 1.快速:能够快速地测量大量颗粒,并生成粒径分布曲线或报告。 2.宽尺寸范围:能够测量不同粒径范围的颗粒,从纳米级到几毫米甚至更大。 3.自动化功能:一些颗粒粒径分析仪配备自动进样和数据处理功能,提高操作效率和减少人为误差。 4.多种参数测量:除了粒径,还可以测量颗粒的形状、浓度、表面电荷等参数。 更多产品信息来源:http://www.coulter-particle.com/Products-30405326.html https://www.chem17.com/st20273/product_30405326.html
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