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DDR内存条的功能测试—导电胶测试治具方案
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DDR内存条的功能测试—导电胶测试治具方案
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公司地址:
广东省深圳市宝安区福永街道稔田旧路10号
产品介绍
当前DDR4已经发展相当成熟了,电压降低了,增加了地址线,支持了更大的容量,不过速度也有了显著的提升。从1600MHz~3200MHz 甚至更高,这类测试座的产品的要求已经变高了,需要高速率,高频率(1600~3200MT/s)的工作,一些探针的产品已经无法满足这类测试要求了,所以跟之前一样,采用了导电胶的产品去替代了探针。 导电胶,是一种固化或干燥后具有导电性的胶粘剂。它可以将多种导电材料连接在一起,使被连接材料间形成电的通路。DDR的导电胶使用的更为牛皮的材料,中心采用金线,导电胶的厚度比较薄,能够很好的配合测试,能够匹配测试的速度以及频率。 当前导电胶的频率可以超过40GHz,延时6.4ps,这种材质能够很好的配合DDR高速颗粒的测试,同时因其薄和过流能力强,测试契合度高。当前很多的主流内存条厂商,都是有在使用,这种DDR的导电胶治具测试快,操作简单。 当前DDR78球,DDR96球,LPDDR200ball,很多流行的内存封装都是有现成的材料的,在外部添加机械结构之后,组装上测试板即可使用。常规的DDR78/96球已经有了现成的测试治具,能把产品放置到测试主板上进行板载测试。 1、产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM); 2、产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试, 3、把频率衰减降低,减少误测; 4、有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压; 5、采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命; 6、采用台湾厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB,金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命; 7、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB,探针板与 PCB 孔定位,保证探针与 PCB 准确定位,如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间; 8、采用进口导电胶设计,相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,导电胶相比探针的测试频率更高,短路不会烧IC和焊盘,可耐更高电流。 9、在使用过程中如有导电胶损坏,客户可自行更换维修,方便维护,为生产争取宝贵时间; 10、高精度合金 IC 定位框,保证 IC 定位准确,取放 IC 方便,从而提高测试效率; 11、测试寿命长,有效测试 10 万次以上;(视使用环境及相关操作而定)
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