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atpg的测试工艺采用的是传统方法，它只能在电子设备中使用。atpg的工艺要求很高，但其优点是可以提高测试速度和性。这项工作主要针对电子设备上的一些老化部件，如电源、滤波器等。atpg的压力测量模式包括a)电流检查；b)水平检查；c)脉冲检查。atpg的方法还提出了一种能够在不同条件下对不同的电路进行老化测试的方法。这些方法包括在每个节点上都建立一个可调节的电路，以确保每个节点都能够正常工作。atpg是全扫描电子设备压力测试标准中一家采用了这种技术并提高了其产量和可靠性。这种技术能够使用户更加容易地对电路进行老化测试。atpg的方法还提供了一个可以使电子设备压力测试更加、简便和的测量方法。atpg的方法在实际应用中也有很大的优势。atpg的工作流程是从电子设备的压力测试到电路测试，再到压力传感器的测量。atpg工具可以在任何时间、任何条件下对电子设备进行老化测试。atpg方法能够使用户更加容易地对不同节点上不同的电路进行老化测试。这种技术能够使用户更加容易地对不同节点上不同的压力进行测量。atpg的工具能够使用户更加容易地对不同节点上不同的压力进行测量。这种技术能够在任何条件下对不同节点上不同电路进行老化测试。atpg方法还可以在任何时间、任何条件下对不同节点上各种节点上各个部位的压力进行测量。

ATPG压力测试目的,动态老化解决了并非所有节点都受到压力的潜在题。除了升高的电压和温度之外，外部信号也会施加到所有芯片并联的输入引脚。这种技术需要在老化条件下具有完整的产品功能，但可以提高老化效率，同时成本仍然适中，并且很容易实现许多零件的平行应力。在老化期间仍然没有来自任何芯片的反馈可用。通过监控的动态老化实现了进一步的改进。在这种情况下，会执行一些有限的响应监控。根据监测的程度，平行应力受到限制，设备变得更加昂贵。然而，逃逸率降低了。