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重庆电子芯片温度冲击试验箱

供应商:安徽奥科试验设备有限公司【公司商铺】

所在地:安徽省合肥市

联系人:吴先生

价格:面议

品牌:奥科环试

发布时间:2023-11-15

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【产品详情】重庆电子芯片温度冲击试验箱

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一、产品用途 温度冲击试验箱又叫冷热冲击试验箱,它广泛用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验,特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选(ESS)试验。 二、产品规格(mm) 1.型号WDCJ-50  工作室尺寸D×W×H 320×350×450 外形尺寸D×W×H 1500×1600×2020 2.型号WDCJ-100 工作室尺寸D×W×H400×500×500 外形尺寸D×W×H 1500×1700×2020 3.型号WDCJ-150 工作室尺寸D×W×H500×500×600 外形尺寸D×W×H 1600×1700×2100 4.型号WDCJ-225 工作室尺寸D×W×H750×600×500 外形尺寸D×W×H 2000×1800×2100 5.型号WDCJ-250 工作室尺寸D×W×H700×650×550 外形尺寸D×W×H 2000×2000×2100 6.型号WDCJ-500 工作室尺寸D×W×H800×800×800 外形尺寸D×W×H 2500×2500×2100 7.型号WDCJ-010 工作室尺寸D×W×H1000×1000×1000外形尺寸D×W×H 3500×3500×2200 8.型号WDCJ-015 工作室尺寸D×W×H1500×1000×1000外形尺寸D×W×H 4200×3800×3800 三、技术参数 1.温度冲击范围:0℃~150℃(A),-20℃~150℃(B)、-40℃~150℃(C)、-60℃~150℃(D); 2.温度范围:-20℃~200℃(A)、-40℃~200℃(B)、-60℃~200℃(C)、  -70℃~200℃(D) 3.试验区:①温度波动度±0.5℃(温度恒定后),②温度偏差≤3℃; 4.高低温区:温度波动度≤±2.0℃; 5.升温速率:1.0~3.0℃/min; 6.降温速率:0.7~1.0℃/min; 7.温度转换时间:≤5s(样品从高温区到低温区或从低温区到高温区); 8.温度恢复时间:≤5min 9.温度转换方式:气动风门切换,换气式,做静态运行。 10.电源电压:AC380±10%V  50Hz

温馨提示: 以上是关于重庆电子芯片温度冲击试验箱的详细介绍, 产品由安徽奥科试验设备有限公司为您提供,如果您对安徽奥科试验设备有限公司产品信息感兴趣可以联系供应商 或者让供应商 安徽奥科试验设备有限公司 主动联系您,您也可以查看更多与 相关的产品!

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