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精密的便携式方块电阻测试仪，2.1基本功能和依据标准： M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2配套组成：标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台当台式机使用。 2.3优势特征： 1美观适用：彩色流线型手持式面板、带防滑垫，符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包装，便于野外或旅行使用。 2高精度：带完善厚度、形状修正功能，测试精度高。同行中手持式多为简易程序，没有完整修正功能，无法修正误差。 3宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程，同行中手持式多为两到三个档位，测试范围有限，适应性不广。 4操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。 5手动/自动一体化： 6显示方式美观清晰：由高亮绿色数码和ＬＥＤ数字表头显示，不怕环境背景暗或野外强光； 7待机和工作时间长（不小于两天），有大容量可充电锂电池电池供电，环保耐用。 2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》 1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻； 2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。 3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。 4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。

苏州晶格电子生产的M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪深受高校、科研院所、企业的欢迎，在使用上具有很好的性能，主要用于测量电阻率、方阻、电阻。我们追求品质，崇尚科技创新，一直秉承“为客户创造价值”的宗旨，坚持“全力以赴，客户至上”的工作准则，为客户提供优异产品和周详的解决方案。

精密的便携式方块电阻测试仪|苏州报价合理的M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪推荐， 面对未来新兴科技的挑战，望能与合作伙伴团结协作，共同进步。苏州晶格电子实施科技与人才战略，现已做好充足的准备，在未来的几年里预备投入较多资金继续引进电工仪器仪表成熟的生产技术以及生产设备，继续招揽电工仪器仪表行业经验丰富、技术过硬的人才。在原有基础上不断创新，注入具备创新思想的新鲜血液，让M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪能够融入潮流因素，更加符合市场的需求。

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