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苏州晶格电子生产的ST2258C多功能四探针电阻率测试仪深受科研院所，高校，工厂的欢迎，在使用上具有很好的性能，主要用于半导体薄层或者片状块状电阻率测量。我们追求品质，崇尚科技创新，一直秉承“为客户创造价值”的宗旨，坚持“全力以赴，客户至上”的工作准则，为客户提供优异产品和周详的解决方案。

实用的四探针电阻率测试仪，2.1基本功能和依据标准： ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2 仪器成套组成：由ST2258C四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。 2.3优势特征： 1：本测试仪特赠设测试结果自动分类功能，宽分类10类。 2：可定制 USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。 3：8档位超宽量程。 同行一般为五到六档位。 4: 仪器小型化、手动/自动一体。 5: 仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟定位器的不稳定。 2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》 1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻； 2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。 3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。 4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。 2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表 四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。 二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台. 平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。

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