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苏州晶格电子生产的ST2253带电脑软件四探针电阻率测试仪深受科研院所，高校，工厂的欢迎，在使用上具有很好的性能，主要用于测试半导体电阻率。我们追求品质，崇尚科技创新，一直秉承“为客户创造价值”的宗旨，坚持“全力以赴，客户至上”的工作准则，为客户提供优异产品和周详的解决方案。

苏州晶格电子在业内发展已有多年，从几年前的规模到如今的规模化经营,公司一直处在一个稳定而又成熟的发展阶段。公司的ST2253带电脑软件四探针电阻率测试仪也一直深受用户的好评；以批发;零售;厂家;实体店销售;网上销售等方式在全国地区好销售；有效的物流在保证产品运输快捷的同时，还具有很高的安全性。产品质量好，性价比好，是广大科研院所，高校，工厂信得过的好产品。

河北厂家供应ST2253数字式四探针电阻率测试仪，2.1基本功能和依据标准： ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.3优势特征： 1) 带电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。荣获专利权作品，专利号：软著登字第号 2) USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！ 3) 8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。 4) 可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体。 5) 操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码开关输入，简便可靠而且免除模拟电位器式的不稳定易受干扰。 2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》 1) 配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻； 2) 配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。 3) 配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。 4) 换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。 2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表 四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。 二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台. 平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。

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